電子顯微鏡

電子顯微鏡是通過向物體施加電子（電子束）來觀察物體的顯微鏡。在普通顯微鏡（光學(xué)顯微鏡）中，光（可見光）照射在被觀察物體上，反射光被放大后觀察物體。然而，電子顯微鏡在物體上是要電子而不是光。

與可見光相比，電子束具有更短的波形，因此具有更高的分辨率。這是因?yàn)樗梢詸z測到無法通過可見光捕獲為"差異"的步驟和其他差異。這使得觀察工程顯微鏡無法觀察到的非常小的物體成為可能。

根據(jù)用途和目的，電子顯微鏡的種類很多，但大致分為透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）兩大類。

透射電子顯微鏡將電子束應(yīng)用于樣品并在放大光下觀察透射電子。在投射電子顯微鏡中，對電子束施加電壓并加速穿透物體。因此，只有可以被電子束穿透的薄材料才能用于觀察。

掃描電子顯微鏡在真空中向樣品表面施加窄聚焦的電子束，并接收物體發(fā)射的電子作為信號。不僅可以獲得樣品表面不平整的圖像，還可以同時(shí)獲得樣品的成分?jǐn)?shù)據(jù)。電子顯微鏡需要高性能電源來產(chǎn)生電子束。

掃描電子顯微鏡（SEM）是電子顯微鏡的一種。通過使用波長比光更短的電子，您可以看到比使用可見光的光學(xué)顯微鏡更精細(xì)的圖像。

掃描電子顯微鏡用電子束在真空中變窄的電子束掃描樣品，并根據(jù)施加電子束的坐標(biāo)信息構(gòu)建和顯示圖像。通常，在入射電子的影響下使用從物體發(fā)射的二次電子來獲取圖像。除了二次電子圖像，掃描電子顯微鏡還可以檢測背散射電子、透射電子、X射線、陰極發(fā)光、內(nèi)電動勢等，并分析樣品成分?jǐn)?shù)據(jù)等各種信息。

在掃描電子顯微鏡中，使用透射電子的稱為 STEM（掃描電子顯微鏡）。在某些情況下，掃描電子顯微鏡會對樣品臺施加負(fù)偏壓以獲得清晰的圖像。

威思曼擁有一系列可用于電子顯微鏡的電源。示例：EM ; SEM ; HEM ; EIB ; HSEM.